Počet záznamov: 1
Analysis of 15 A–1200 V class IGBTs under repeitive SC conditions
Údaje o názve Analysis of 15 A–1200 V class IGBTs under repeitive SC conditions / aut. Juraj Marek, Michal Minárik, Jozef Kozárik, Martin Jagelka Záhlavie-meno Marek, Juraj, 1983- (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Ďal.zodpovednosť Minárik, Michal, 1995- Z3 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Kozárik, Jozef, 1993- Z2 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Jagelka, Martin, 1989- Z2 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky In ADEPT 2022 [274 s.] / Feiler, Martin. -- Žilina : Vydavateľstvo EDIS, 2022. -- ISBN 978-80-554-1884-1. -- S. 205-208 Predmet.heslá reliability degradation IGBT repetitive short circuit Jazyk dok. angličtina Druh dok. RZB - článok zo zborníka Kategória AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách Kategória od 2022 V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu príspevok z podujatia Rok 2022 
článok
Počet záznamov: 1