Cross-sectional SEM-EBIC analysis of semi-vertical GaN power diodes

Počet záznamov: 1

Údaje o názve	Cross-sectional SEM-EBIC analysis of semi-vertical GaN power diodes / aut. Juraj Priesol, Alexander Šatka, Matteo Borga, A Minj, Benoit Bakeroot, Karen Geens
Záhlavie-meno	Priesol, Juraj, 1986- (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
Ďal.zodpovednosť	Šatka, Alexander, 1960- Z1 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
	Borga, Matteo (Autor)
	Minj, A. (Autor)
	Bakeroot, Benoit (Autor)
	Geens, Karen (Autor)
In	ASDAM 2022 [254 s.] / International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems (ASDAM 2022). -- Danvers : IEEE, 2022. -- ISBN 978-1-6654-6977-7. -- S. 83-87
Jazyk dok.	angličtina
URL	https://ieeexplore.ieee.org/document/9966747
Druh dok.	RZB - článok zo zborníka
Kategória	AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
Kategória od 2022	V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
Typ výstupu	príspevok z podujatia
V databázach
Rok	2022

článok

citace PRO

Počet záznamov: 1