Počet záznamov: 1
On the preparation of GaN device cross-sections for EBIC analysis
Údaje o názve On the preparation of GaN device cross-sections for EBIC analysis / aut. Juraj Priesol, Alexander Šatka, Daniel Haško, František Uherek Záhlavie-meno Priesol, Juraj, 1986- (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Ďal.zodpovednosť Šatka, Alexander, 1960- Z1 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Haško, Daniel, 1975- Z5 (Autor) Uherek, František, 1954- Z1 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky In Fotonika 2022 [116 s.] / Michalka, Miroslav. -- Bratislava : Medzinárodné laserové centrum, 2022. -- ISBN 978-80-8240-033-8. -- S. 37-40 Predmet.heslá Cross-section mechanical polishing nano-polishing grinding vertical GaN EBIC Jazyk dok. angličtina Druh dok. RZB - článok zo zborníka Kategória AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách Kategória od 2022 V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu príspevok z podujatia Rok 2022 
článok
Počet záznamov: 1