Počet záznamov: 1
Automatic detection and counting of defects from cathodoluminescence maps of GaN layers
Údaje o názve Automatic detection and counting of defects from cathodoluminescence maps of GaN layers / aut. Juraj Priesol, David Gellen, Alexander Šatka Záhlavie-meno Priesol, Juraj, 1986- (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Ďal.zodpovednosť Gellen, David, 1999- Z4 (Autor) - FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky Šatka, Alexander, 1960- Z1 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky In MECO 2023 / Mediterranean Conference on Embedded Computing (MECO 2023). -- Piscataway : IEEE, 2023. -- ISBN 979-8-3503-2291-0. -- ISSN 2637-9511. -- [4] s. Predmet.heslá object detection object counting 2D FFT segmentation CLAHE watershed Cathodoluminescence GaN quality assessment reliability Jazyk dok. angličtina URL https://ieeexplore.ieee.org/document/10155031 Druh dok. RZB - článok zo zborníka Kategória AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách Kategória od 2022 V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu príspevok z podujatia DOI: 10.1109/MECO58584.2023.10155031
SCOPUS: 2-s2.0-85164936415Rok 2023 
článok
Počet záznamov: 1