Analysis of Structural Defect States in Thin Films of Small-Molecular Organic Semiconductors Using Complex Impedance Data and DFT

Počet záznamov: 1

Údaje o názve	Analysis of Structural Defect States in Thin Films of Small-Molecular Organic Semiconductors Using Complex Impedance Data and DFT / aut. Katarína Gmucová, Martin Konôpka, Lucia Feriancová, Vojtech Nádaždy, Peter Bokes, Martin Putala
Záhlavie-meno	Gmucová, Katarína (Autor)
Ďal.zodpovednosť	Konôpka, Martin, 1971- Z1 (Autor) - FEI Ústav jadrového a fyzikálneho inžinierstva
	Feriancová, Lucia (Autor)
	Nádaždy, Vojtech, 1961- (Autor)
	Bokes, Peter, 1973- Z1 (Autor) - FEI Ústav jadrového a fyzikálneho inžinierstva
	Putala, Martin Z5 (Autor)
In	APCOM 2023 / Sitek, Jozef. -- Melville : AIP Publishing, 2024. -- ISBN 978-0-7354-4805-6. -- Art. no. 020002 [8] s.
Jazyk dok.	angličtina
URL	https://pubs.aip.org/aip/acp/article/3054/1/020002/3022835/Analysis-of-structural-defect-states-in-thin-films
Druh dok.	RZB - článok zo zborníka
Kategória	AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
Kategória od 2022	V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
Typ výstupu	príspevok z podujatia
V databázach
Rok	2024

článok

citace PRO

Počet záznamov: 1