- Simple RF on-chip calibration for high-frequency transistor measureme…
Počet záznamov: 1  

Simple RF on-chip calibration for high-frequency transistor measurements

  1. Údaje o názveSimple RF on-chip calibration for high-frequency transistor measurements / aut. Martin Florovič, Michal Dzuriš, René Harťanský, Jaroslav jr Kováč, Aleš Chvála, Dagmar Gregušová, Filip Gucmann, Milan Ťapajna
    Záhlavie-meno Florovič, Martin, 1978- (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    Ďal.zodpovednosť Dzuriš, Michal, 1998- Z8 (Autor) - FEI Ústav elektrotechniky
    Harťanský, René, 1969- Z1 (Autor) - FEI Ústav elektrotechniky
    Kováč, Jaroslav jr. 1977- Z1 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    Chvála, Aleš, 1981- Z1 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    Gregušová, Dagmar (Autor)
    Gucmann, Filip, 1987- (Autor)
    Ťapajna, Milan, 1977- (Autor)
    Prekl.názJednoduchá RF kalibrácia na čipe pre charakterizáciu tranzistora pomocou vysokofrekvenčných meraní
    In ASDAM 2024 [87 s.] / International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems (ASDAM 2024). -- Danvers : IEEE, 2024. -- ISBN 979-8-3315-4060-9. -- ISSN 2474-9737. -- S. 46-49
    Jazyk dok.angličtina
    URLhttps://ieeexplore.ieee.org/document/10844608
    Druh dok.RZB - článok zo zborníka
    KategóriaAFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
    Kategória od 2022V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    Typ výstupupríspevok z podujatia
    V databázach
    Rok2025
    článok

    článok

Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.