- Refining EBIC Analysis of GaN p-n Junctions Through Numerical Simulat…
Počet záznamov: 1  

Refining EBIC Analysis of GaN p-n Junctions Through Numerical Simulations

  1. neschválené - rozpracované (upraviť môže len spracovateľ)
    Údaje o názveRefining EBIC Analysis of GaN p-n Junctions Through Numerical Simulations / aut. Juraj Priesol, Alexander Šatka
    Záhlavie-meno Priesol, Juraj, 1986- (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    Ďal.zodpovednosť Šatka, Alexander, 1960- Z1 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    In Measurement 2025 [317 s.] / Dvurečenskij, Andrej. -- Bratislava : Institute of Measurement Science Slovak Academy of Sciences, 2025. -- ISBN 978-80-69159-00-6. -- S. 197-200
    Jazyk dok.angličtina
    Druh dok.RZB - článok zo zborníka
    KategóriaAFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
    Kategória od 2022V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    Typ výstupupríspevok z podujatia
    Rok2025
    článok

    článok

Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.

Prijať všetkoNastavenieOdmietnuť všetko