Počet záznamov: 1
Defects in High-k Gate Dielectric Stacks
Údaje o názve Defects in High-k Gate Dielectric Stacks : Nano-Electronic Semiconductor Devices Záhlavie-meno Gusev, Evgeni (Autor) Vyd.údaje Dordrecht : Springer Verlag, 2006 Fyz.popis 492 s ISBN 1-4020-4365-1 Predmet.heslá MIS štruktúry MOS štruktúry nanotechnológie molekulárne vlastnosti MDT 538.9 539.2 621.328.049.77 Krajina Holandsko, Holandské kráľovstvo Jazyk dok. angličtina Druh dok. AMG - monografia 
kniha
Čiar.kód Lokačná signatúra Signatúra Lokácia Dislokácia Info 284EK86207 E*86207 Fakulta elektrotechniky a informatiky Katedra mikroelektroniky FEI nedostupný
Počet záznamov: 1