Počet záznamov: 1

CMOS Defects Analysis Using DefSim Measurement Environment

Údaje o názve	CMOS Defects Analysis Using DefSim Measurement Environment
Záhlavie-meno	Pleskacz, W.A. (Autor)
Ďal.zodpovednosť	Borejko, T. (Autor)
	Walkanis, A. (Autor)
	Stopjaková, Viera, 1968- (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
	Jutman, A. (Autor)
	Ubar, Raimund (Autor)
In	ETS '06 : 11th IEEE European Test Symposium. Southampton, United Kingdeom, 21.-24.5.2006. -- s.241-246
Jazyk dok.	angličtina
Druh dok.	RBX - článok z periodika
Kategória	AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
Kategória od 2022	V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
Rok	2007

článok

citace PRO

Počet záznamov: 1