Počet záznamov: 1
Impact of Thermal Annealing on MOS Structure Irradiated with Energetic Heavy Ions
Údaje o názve Impact of Thermal Annealing on MOS Structure Irradiated with Energetic Heavy Ions Záhlavie-meno Žiška, Milan, 1952- (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Ďal.zodpovednosť Harmatha, Ladislav, 1948- (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Csabay, Otto, 1937- (Autor) - FEI Katedra mikroelektroniky Muránsky, Viktor (Autor) - FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky In APCOM 2008. Applied Physics of Condensed Matter : Proceedings of the 14th International Workshop. Bystrá, Slovak Republic, 25.-27.6.2008 /. -- Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2008. -- ISBN 978-80-227-2902-4. -- s.262-265 Jazyk dok. angličtina Druh dok. RZB - článok zo zborníka Kategória AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách Kategória od 2022 V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Rok 2008 
článok
Počet záznamov: 1