Počet záznamov: 1
Vplyv Bi na životnosť a spoľahlivosť spájkovaných spojov v mikroelektronike
Údaje o názve Vplyv Bi na životnosť a spoľahlivosť spájkovaných spojov v mikroelektronike Záhlavie-meno Lechovič, Emil, 1984- (Autor) - MTF Ústav výrobných technológií In Technológia zvárania 2008 - Technológia rozvoja priemyslu Európskej únie : Vedecký seminár v rámci "Týždňa vedy a techniky na Slovensku 2008", Bratislava, 25.11.2008. -- Trnava : AlumniPress, 2008. -- ISBN 978-80-8096-071-1 Predmet.heslá spájkovaný spoj Mikroelektronika Jazyk dok. slovenčina Druh dok. RZB - článok zo zborníka Kategória AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách Kategória od 2022 V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Rok 2009 
článok
Počet záznamov: 1