Počet záznamov: 1  

Study of Interconnect Layers Oriented to Ohmic and Barrier Effects

  1. Údaje o názveStudy of Interconnect Layers Oriented to Ohmic and Barrier Effects : Dát. obhaj. 16.12.2010, čís. ved. odb. 5.2.13
    Záhlavie-meno Sumega, Miroslav (Autor)
    Ďal.zodpovednosť Áč, Vladimír (Školiteľ (konzultant))
    Prekl.názŠtúdium ohmických a bariérových javov prechodových vrstiev
    Vyd.údajeBratislava : STU v Bratislave FEI, 2010
    FakultaFEI
    Fyz.popis100 s
    Predmet.heslá elektronika
    prechodné javy
    KrajinaSlovensko, Slovenská republika
    Druh dok.DDZ - dizertačná práca
    KategóriaDAI - Dizertačné a habilitačné práce
    kniha

    kniha

    Čiar.kódLokačná signatúraSignatúraLokáciaDislokáciaInfo
    284ED01317E*ZP-181Fakulta elektrotechniky a informatikyKnižnica FEI

Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.