Počet záznamov: 1
Určenie hĺbkového profilu fázového zloženia tenkých vrstiev pomocou rtg difrakcie pri malom uhle dopadu
Údaje o názve Určenie hĺbkového profilu fázového zloženia tenkých vrstiev pomocou rtg difrakcie pri malom uhle dopadu. Záhlavie-meno Novák, Patrik, 1987- (Autor) - FEI Ústav jadrového a fyzikálneho inžinierstva Ďal.zodpovednosť Ballo, Peter, 1960- (Školiteľ (konzultant)) - FEI Ústav jadrového a fyzikálneho inžinierstva Prekl.náz Determination of depth profile of the phase composition of thin films by X-ray diffraction at low angle of incidence Vyd.údaje Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2012 Fyz.popis 47 s 1 príl. Predmet.heslá Physical Engineering X-ray diffraction Krajina Slovensko, Slovenská republika Jazyk dok. slovenčina URL http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=79145 Druh dok. DDP - diplomová práca 
kniha
Čiar.kód Lokačná signatúra Signatúra Lokácia Dislokácia Info 284EP10081 E*DIPL-10081 Fakulta elektrotechniky a informatiky Ústav jadrového a fyzikálného inžinierstva nedostupný
Počet záznamov: 1