Počet záznamov: 1
Analýza napäťových pomerov v tenkých supertvrdých vrstvách
Údaje o názve Analýza napäťových pomerov v tenkých supertvrdých vrstvách Záhlavie-meno Farkaš, Ladislav, 1985- (Autor) Ďal.zodpovednosť Čaplovič, Ľubomír, 1955- (Školiteľ (konzultant)) - MTF Ústav materiálov Prekl.náz Analysis of voltage ratios in thin superhard layers Vyd.údaje Trnava : STU v Bratislave MTF UMAT, 2013 Fakulta MTF Predmet.heslá Materials Engineering X-ray diffraction thin layer röntgenová difrakcia zvyškové napätia Krajina Slovensko, Slovenská republika Jazyk dok. slovenčina URL http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=90890 Druh dok. DDP - diplomová práca 
kniha
Čiar.kód Lokačná signatúra Signatúra Lokácia Dislokácia Info M*DP-11254 Materiálovotechnická fakulta M štud. kvalif. prác nedostupný
Počet záznamov: 1