Počet záznamov: 1  

FT IR spectroscopy of silicon oxide layers prepared with perchloric acid

  1. Údaje o názveFT IR spectroscopy of silicon oxide layers prepared with perchloric acid
    Záhlavie-meno Kopáni, Martin (Autor)
    Ďal.zodpovednosť Mikula, Milan, 1951- (Autor) - FCHPT Oddelenie polygrafie a aplikovanej fotochémie
    Takahashi, Masao (Autor)
    Rusnák, Jaroslav (Autor)
    Pinčík, Emil (Autor)
    Prekl.názFTIR spektroskopia silikon-oxidových vrstiev pripravených s kyselinou perchlórovou
    In Applied Surface Science. -- Vol. 269 (2013), s.106-109
    Jazyk dok.angličtina
    Druh dok.RBX - článok z periodika
    KategóriaADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
    Kategória od 2022V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Rok2013
    článok

    článok

Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.