Počet záznamov: 1
Fundamental principles of engineering nanometrology
Údaje o názve Fundamental principles of engineering nanometrology Záhlavie-meno Leach, Richard K. (Autor) Vyd.údaje Amsterdam : Elsevier, 2010 Fyz.popis 321 s ISBN 978-0-08-096454-6 Predmet.heslá mikrotechnológie nanotechnológie meracie prístroje metrológia meranie Krajina Holandsko, Holandské kráľovstvo Jazyk dok. angličtina Druh dok. AMG - monografia 
kniha
Čiar.kód Lokačná signatúra Signatúra Lokácia Dislokácia Info 284M085770 M*13650-1 Materiálovotechnická fakulta M KN vypožičaný (do *02.01.2024)
Počet záznamov: 1