Počet záznamov: 1
Hierarchical test generation for combinational circuits with real defects coverage
Údaje o názve Hierarchical test generation for combinational circuits with real defects coverage Záhlavie-meno Cibáková, T. (Autor) Ďal.zodpovednosť Fischerová, M. (Autor) Gramatová, Elena, 1948- (Autor) - FIIT Ústav počítačového inžinierstva a aplikovanej informatiky Kuzmicz, W. (Autor) Pleskacz, W.A. (Autor) Raik, J. (Autor) Ubar, Raimund (Autor) Prekl.náz Hierarchické generovanie testov pre kombinančné obvody s pokrytím reálnych defektov In Microelectronics Reliability. -- Vol. 42, Iss. 7 (2002), s.1141-1149 Predmet.heslá defekty digitálny obvod generovanie testov Jazyk dok. angličtina Druh dok. RBX - článok z periodika Kategória ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch V databázach WOS: 000177022900020
SCOPUS: 2-s2.0-0036642462
článok
Počet záznamov: 1