Počet záznamov: 1

How to generate high quality tests for digital systems

Údaje o názve	How to generate high quality tests for digital systems
Záhlavie-meno	Ubar, R. (Autor)
Ďal.zodpovednosť	Aarna, M. (Autor)
	Kruus, H. (Autor)
	Raik, J. (Autor)
In	2004 International semiconductor conference : proceedings. 27th International Semiconductor Conference (CAS), Oct 04-06, 2004, Sinaia, Romania. -- [New York] : IEEE, 2004. -- ISBN 0-7803-8499-7. -- s.459-462
Jazyk dok.	angličtina
Druh dok.	RZB - článok zo zborníka
V databázach
Odkazy	(1) - článok

článok

citace PRO

Počet záznamov: 1