Počet záznamov: 1  

2000 IEEE International reliability physics symposium procedings

  1. Údaje o názve2000 IEEE International reliability physics symposium procedings : 38th annual. San Jose, California, USA.10.- 13. April 2000
    Vyd.údajePiscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2000
    Fyz.popis455 s
    ISBN0-7803-5860-0
    Predmet.heslá spoľahlivosť
    fyzika tuhých látok
    fyzika polovodičov
    polovodiče
    polovodičové súčiastky
    dielektriká
    MDT538.9
    621.315.592
    621.382
    519.718
    061.3(08)
    KrajinaSpojené štáty, Spojené štáty americké
    Jazyk dok.angličtina
    Druh dok.AZN - zborník
    kniha

    kniha

    Čiar.kódLokačná signatúraSignatúraLokáciaDislokáciaInfo
    284EZ00072E*Z-637Fakulta elektrotechniky a informatikyKnižnica FEInedostupný

Počet záznamov: 1