Počet záznamov: 1  

Elektrická charakterizácia polovodičových štruktúr na báze AIIIBV

  1. Údaje o názveElektrická charakterizácia polovodičových štruktúr na báze AIIIBV
    Záhlavie-meno Solčiansky, Michal (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    Ďal.zodpovednosť Benko, Peter (Školiteľ (konzultant))
    Prekl.názElectrical characterization of semiconductor structures based on AIIIBV
    Vyd.údaje2015
    FakultaFEI
    Dátum obhajoby16.06.2015
    Študijný odbor5.2.13. elektronika
    Študijný programI-ME
    Fyz.popis48 s. CD-ROM
    Predmet.hesláGaN
    Schottkyho kontakt
    HEMT
    kapacitná metóda
    prúdová metóda
    Schottky contact
    HEMT
    capacitive method
    current method
    GaN
    Jazyk dok.slovenčina
    URLhttp://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=111661
    Druh dok.DDP - diplomová práca
    kniha

    kniha

    Čiar.kódLokačná signatúraSignatúraLokáciaDislokáciaInfo
    284EP11134E*DIPL- 11134Fakulta elektrotechniky a informatikyÚstav elektroniky a fotonikylen prezenčne

Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.