Počet záznamov: 1
Elektrická charakterizácia polovodičových štruktúr na báze AIIIBV
Údaje o názve Elektrická charakterizácia polovodičových štruktúr na báze AIIIBV Záhlavie-meno Solčiansky, Michal (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Ďal.zodpovednosť Benko, Peter (Školiteľ (konzultant)) Prekl.náz Electrical characterization of semiconductor structures based on AIIIBV Vyd.údaje 2015 Fakulta FEI Dátum obhajoby 16.06.2015 Študijný odbor 5.2.13. elektronika Študijný program I-ME Fyz.popis 48 s. CD-ROM Predmet.heslá GaN Schottkyho kontakt HEMT kapacitná metóda prúdová metóda Schottky contact HEMT capacitive method current method GaN Jazyk dok. slovenčina URL http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=111661 Druh dok. DDP - diplomová práca kniha
Čiar.kód Lokačná signatúra Signatúra Lokácia Dislokácia Info 284EP11134 E*DIPL- 11134 Fakulta elektrotechniky a informatiky Ústav elektroniky a fotoniky len prezenčne
Počet záznamov: 1