Počet záznamov: 1  

Návrh prostriedkov pre automatizované testovanie integrovaných obvodov

  1. Údaje o názveNávrh prostriedkov pre automatizované testovanie integrovaných obvodov
    Záhlavie-meno Vu Viet, Hoang (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    Ďal.zodpovednosť Benko, Peter Z2 (Školiteľ (konzultant)) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    Prekl.názDEVELOPMENT of APPLICATIONS for AUTOMATED TESTING of INTEGRATED CIRCUITS
    Vyd.údaje2018
    FakultaFEI
    Dátum obhajoby03.07.2018
    Študijný odbor5.2.13. elektronika
    Študijný programB-ELN
    Fyz.popis59 s., príl., CD-ROM
    Predmet.hesláAutomated Testing
    Diode
    Integrated Circuit
    dióda
    integrovaný obvod
    automatizované testovanie
    KrajinaSlovensko, Slovenská republika
    Jazyk dok.slovenčina
    URLhttp://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=124155
    Druh dok.DBP - bakalárska práca
    kniha

    kniha

    Čiar.kódLokačná signatúraSignatúraLokáciaDislokáciaInfo
    284ER02579E*Bc- 2579Fakulta elektrotechniky a informatikyÚstav elektroniky a fotonikylen prezenčne

Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.