Počet záznamov: 1  

Preparation and characterization of thin films using FIB technique

  1. Údaje o názvePreparation and characterization of thin films using FIB technique
    Záhlavie-meno Došenović, Đorđe (Autor) - FEI Ústav jadrového a fyzikálneho inžinierstva
    Ďal.zodpovednosť Ballo, Peter Z1 (Školiteľ (konzultant)) - FEI Ústav jadrového a fyzikálneho inžinierstva
    Prekl.názPríprava tenkých rezov pomocou FIB a ich charakterizácia
    Vyd.údaje2019
    FakultaFEI
    Dátum obhajoby02.07.2019
    Študijný odbor5.2.48. fyzikálne inžinierstvo
    Študijný programB-JFI
    Fyz.popis66 s.
    Predmet.hesláTEM
    fokusovaný iónový zväzok
    lamela
    InAlN
    EDS
    focused ion beam
    lamella
    TEM
    EDS
    InAlN
    KrajinaSlovensko, Slovenská republika
    Jazyk dok.angličtina
    URLhttp://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=143238
    Druh dok.DBP - bakalárska práca
    kniha

    kniha

    Čiar.kódLokačná signatúraSignatúraLokáciaDislokáciaInfo
    284ER02851E*Bc- 2851Fakulta elektrotechniky a informatikyÚstav jadrového a fyzikálného inžinierstvalen prezenčne

Počet záznamov: 1