Počet záznamov: 1

Návrh prostriedkov pre automatizované testovanie energetickej odolnosti výkonových tranzistorov

Údaje o názve	Návrh prostriedkov pre automatizované testovanie energetickej odolnosti výkonových tranzistorov
Záhlavie-meno	Vu Viet, Hoang (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
Ďal.zodpovednosť	Benko, Peter Z2 (Školiteľ (konzultant)) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
Prekl.náz	Development of Applications for Automated Ruggedness Testing of Power Transistors
Vyd.údaje	Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2020
Fakulta	FEI
Dátum obhajoby	09.06.2020
Študijný odbor	elektrotechnika
Študijný program	I-EN
Fyz.popis	70 s.
Predmet.heslá	výkonový tranzistor
	UIS test
	energetická odolnosť
	automatizované testovanie
	MOSFET
	UIS
	ruggedness test
	automated testing system
	MOSFET
	power transistor
Krajina	Slovensko, Slovenská republika
Jazyk dok.	slovenčina
URL	https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=AFB64E0160B4F4E92046D59F9648&seo=CRZP-detail-kniha
Druh dok.	DDP - diplomová práca

kniha

citace PRO

Počet záznamov: 1