- Design, fabrication and characterization of SiOx/SiON/SiO2/Si structu…
Počet záznamov: 1  

Design, fabrication and characterization of SiOx/SiON/SiO2/Si structures for passive optical waveguides realization

  1. CREPC022018 CREPC201802 CREPC201803 CREPC201806
    Údaje o názveDesign, fabrication and characterization of SiOx/SiON/SiO2/Si structures for passive optical waveguides realization / aut. Jozef Chovan, Daniel Figura, Juraj Chlpík, Dušan Lorenc, Vlastimil Řeháček, František Uherek
    Záhlavie-meno Chovan, Jozef, 1974- (Autor)
    Ďal.zodpovednosť Figura, Daniel (Autor) Z9 - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    Chlpík, Juraj, 1975- Z1 (Autor) - FEI Ústav jadrového a fyzikálneho inžinierstva
    Lorenc, Dušan (Autor)
    Řeháček, Vlastimil, 1957- Z2 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    Uherek, František, 1954- Z1 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    In Photonics, Devices and Systems VII [342 s.] / International Conference on Photonics, Devices and Systems. -- Washington : SPIE, 2017. -- ISBN 978-1-510-61702-5. -- Art. no. 106030N [7] s.
    Predmet.heslá oxynitrides
    silicon
    waveguide
    integrated photonics
    spectroscopic ellipsometry
    Jazyk dok.angličtina
    Druh dok.RZB - článok zo zborníka
    KategóriaAFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
    Kategória od 2022V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    V databázach
    Rok2017
    článok

    článok

Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.