Počet záznamov: 1
Application of IDDT Test in SRAM Arrays Towards Detection of Weak Opens
SYS stu292679 LBL 00000ntm--22000003a-4500 005 20230412140349.1 008 140701s2014----xo------------------eng-d 040 $a STU $b slo 041 0-
$a eng 044 $a xo 100 1-
$a Gyepes, Gábor, $d 1985- $4 aut $u E030 $7 stu_us_auth*stu90220 $U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky $T FEI Ústav elektroniky a fotoniky $X 10437 $U E030 $Y 549 242 00
$a Aplikácia IDDT testu na pokrytie prerušení v SRAM poliach $y slo 245 1-
$a Application of IDDT Test in SRAM Arrays Towards Detection of Weak Opens : $b dát. obhaj. 24.6.2014, č. ved. odb. 26-13-9 260 $a Bratislava : $b STU v Bratislave FEI, $c 2014 300 $a 98 s $c AUTOREF. 2014, 36 s. 650 -7
$a Mikroelektronika $2 stusub $7 stu_us_auth*stus47572 650 -7
$a Microelectronics $2 estusub $7 stu_us_auth*stus30889 700 1-
$a Stopjaková, Viera, $d 1968- $4 ths $u E030 $7 stu_us_auth*stu9819 $U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky $T FEI Ústav elektroniky a fotoniky $X 1939 $U E030 $Y 549 856 4-
$a info a plný text $u http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=113990 $3 VAIS
Počet záznamov: 1