vertikálny GaN tranzistor. rastrovacia elektrónová mikroskopia. katódoluminiscenciaPriesol, Juraj, 1986- Charakterizácia polovodičových štruktúr pre vertikálne GaN tranzistory metódami SEM / aut. Juraj Priesol, Alexander Šatka, František Uherek, Daniel Haško, Peter Šichman, Stanislav Hasenöhrl, Ján Kuzmík. Šatka, Alexander, 1960-. Uherek, František, 1954-. Haško, Daniel, 1975-. Šichman, Peter. Hasenöhrl, Stanislav. Kuzmík, Ján In: Fotonika 2020. -- 34 s.. -- 978-80-972238-9-2 Výročný vedecký seminár Medzinárodného laserového centra (FOTONIKA 2020). -- Bratislava : Medzinárodné laserové centrum, 2020. -- S. 11-14.