Počet záznamov: 1
DLTFS study of power GaN HEMTs before and after applied electrical stress
Údaje o názve DLTFS study of power GaN HEMTs before and after applied electrical stress / aut. Matej Matuš, Jozef Kozárik, Michal Minárik, Juraj Marek, Ľubica Stuchlíková Záhlavie-meno Matuš, Matej, 1997- (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Ďal.zodpovednosť Kozárik, Jozef, 1993- Z2 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Minárik, Michal, 1995- Z8 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Marek, Juraj, 1983- Z1 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Stuchlíková, Ľubica, 1967- Z1 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky In ADEPT 2025 [257 s.] / International conference on Advances in Electronic and Photonic Technologies (ADEPT 2025). -- Žilina : Vydavateľstvo EDIS, 2025. -- ISBN 978-80-554-2208-4. -- S. 201-204 Predmet.heslá e-mode GaN HEMT electrical stress DLTFS nitrogen point defects Jazyk dok. angličtina Druh dok. RZB - článok zo zborníka Kategória AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách Kategória od 2022 V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu príspevok z podujatia Rok 2025 
článok
Počet záznamov: 1