Wrapper tool - learning and application of digital system testability to SoC cores
Baláž Marcel  Bečková Jana Gramatová Elena ; I100
SIBIRCON-2010 : . s.384-389
digitálny obvod testovateľnosť systém na čipe
článok zo zborníka
AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka