Cross-sectional SEM-EBIC analysis of semi-vertical GaN power diodes / aut. Juraj Priesol, Alexander Šatka, Matteo Borga, A Minj, Benoit Bakeroot, Karen Geens
Priesol Juraj ; 033000  Šatka Alexander ; 033000 Borga Matteo Minj A. Bakeroot Benoit Geens Karen
ASDAM 2022 : . S. 83-87
https://ieeexplore.ieee.org/document/9966747
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka