- Simulation Analysis of Nanomembrane GaAs HEMT on Foreign Substrates
Počet záznamov: 1  

Simulation Analysis of Nanomembrane GaAs HEMT on Foreign Substrates

  1. CHVÁLA, Aleš et al. Simulation Analysis of Nanomembrane GaAs HEMT on Foreign Substrates. In WOCSDICE-EXMATEC 2024 : 47th Workshop on compound semiconductor devices and integrated circuits held in Europe. 18th Expert evaluation and control of compound semiconductor materials and technologies. Heraclion Crete, Greece. May 19-23, 2024. Heraklion Crete : MITOS, 2024, [2] s. E*e-169/2024
Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.