Počet záznamov: 1
Analýza napäťových pomerov v tenkých supertvrdých vrstvách
- Analýza napäťových pomerov v tenkých supertvrdých vrstvách
Farkaš Ladislav Čaplovič Ľubomír (škol.) ; M1000
Trnava : STU v Bratislave MTF UMAT, 2013
MTF ;
Materials Engineering X-ray diffraction thin layer röntgenová difrakcia zvyškové napätia
http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=90890
diplomová prácaFakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné MTF 0 0 0 1 
kniha
Počet záznamov: 1