Počet záznamov: 1  

Diagnostika šumových vlastností tranzistorov GaN HEMT

  1. CREPC201502 CREPC201503 CREPC201506
    Údaje o názveDiagnostika šumových vlastností tranzistorov GaN HEMT : dát. obhaj. 27.8.2014, č. ved. odb. 5-2-13
    Záhlavie-meno Rendek, Karol, 1985- (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    Ďal.zodpovednosť Šatka, Alexander, 1960- (Školiteľ (konzultant)) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    Prekl.názNoise analysis of GaN HEMTs
    Vyd.údajeBratislava : STU v Bratislave FEI, 2014
    FakultaFEI
    Dátum obhajoby27.08.2014
    Študijný program99
    Fyz.popis97 s AUTOREF. 2014, 25 s.
    Predmet.heslá Mikroelektronika
    Microelectronics
    KrajinaSlovensko, Slovenská republika
    Jazyk dok.slovenčina
    URLhttp://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=113930
    Druh dok.DDZ - dizertačná práca
    KategóriaDAI - Dizertačné a habilitačné práce
    Rok2014
    kniha

    kniha

    Čiar.kódLokačná signatúraSignatúraLokáciaDislokáciaInfo
    284ED01462E*ZP-335Fakulta elektrotechniky a informatikyKnižnica FEI

Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.