Počet záznamov: 1
1999 IEEE international reliability physics symposium proceedings
SYS stu52113 LBL 00000nam--22000003a-4500 005 20141122030337.0 008 000218s1999----xxu-----------------eng-d 020 $a 0-7803-5220-3 040 $a STU $b slo 041 0-
$a eng 044 $a xxu 080 $7 stu_us_auth*stu7967 $a 538.9 080 $7 stu_us_auth*stu10096 $a 621.315.592 080 $7 stu_us_auth*stu10150 $a 621.382 080 $7 stu_us_auth*stu9873 $a 519.718 080 $7 stu_us_auth*stu8235 $a 061.3(08) 084 $7 stu_us_auth*stu15817 $a A7280 $2 INS 084 $7 stu_us_auth*stu6764 $a B0170N $2 INS 084 $7 stu_us_auth*stu16012 $a B2520 $2 INS 245 $a 1999 IEEE international reliability physics symposium proceedings : $b 37th annual. San Diego, USA California. 23.- 25. March 1999 260 $a Piscataway : $b Institute of Electrical and Electronics Engineers, $c 1999 300 $a 448 s 650 -7
$a spoľahlivosť $2 stusub $7 stu_us_auth*stus20390 650 -7
$a fyzika tuhých látok $2 stusub $7 stu_us_auth*stus21 650 -7
$a fyzika polovodičov $2 stusub $7 stu_us_auth*stus440 650 -7
$a polovodiče $2 stusub $7 stu_us_auth*stus24 650 -7
$a polovodičové súčiastky $2 stusub $7 stu_us_auth*stus34 650 -7
$a dielektriká $2 stusub $7 stu_us_auth*stus6183
Počet záznamov: 1