Počet záznamov: 1
Simulácia, meranie a vyhodnocovanie koncentračných profilov prímesí v polovodičových štruktúrach
SYS stu9376 LBL 00000ntm--22000003a-4500 005 20150617225806.6 008 970116s1996----------------------------d 040 $a STU $b slo 041 0-
$a 080 $7 stu_us_auth*stu7967 $a 538.9 080 $7 stu_us_auth*stu8240 $a 621.382.049.77 080 $7 stu_us_auth*stu8320 $a 519.6 084 $7 stu_us_auth*stu6323 $a A6170W $2 INS 084 $7 stu_us_auth*stu6324 $a A0750 $2 INS 084 $7 stu_us_auth*stu6205 $a B2530F $2 INS 084 $7 stu_us_auth*stu15343 $a B2550B $2 INS 084 $7 stu_us_auth*stu6326 $a B7310J $2 INS 084 $7 stu_us_auth*stu6204 $a A7340Q $2 INS 100 1-
$a Kinder, Rudolf, $d 1940- $4 aut $u E030 $7 stu_us_auth*stu8847 $U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky $T FEI Ústav elektroniky a fotoniky $X 2115 $U E030 $Y 549 245 1-
$a Simulácia, meranie a vyhodnocovanie koncentračných profilov prímesí v polovodičových štruktúrach : $b Habil.práca : Obh. 03.09.1996 / $c [aut.] Kinder,Rudolf, Ing.,CSc 260 $a Bratislava : $b STU v Bratislave FEI, $c 1996 300 $a 118 s 650 -7
$a polovodičové štruktúry $2 stusub $7 stu_us_auth*stus773 650 -7
$a fyzika polovodičov $2 stusub $7 stu_us_auth*stus440 650 -7
$a MIS štruktúry $2 stusub $7 stu_us_auth*stus1116 650 -7
$a MOS štruktúry $2 stusub $7 stu_us_auth*stus2706 650 -7
$a kapacitné meracie metódy $2 stusub $7 stu_us_auth*stus2707
Počet záznamov: 1