Počet záznamov: 1
Návrh prostriedkov pre automatizované testovanie energetickej odolnosti výkonových tranzistorov
SYS stuzp74371 LBL 00000ntm-a22^^^^^3a-4500 003 SK-STU 005 20200731102837.6 007 ta 008 150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d 040 $a STU $b slo 041 0-
$a slo 044 $a xo 100 1-
$7 stu_us_auth*0033062 $a Vu Viet, Hoang $u 033000 $4 aut $U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky $T FEI Ústav elektroniky a fotoniky $X 70029 $U E030 $Y 549 242 01
$a Development of Applications for Automated Ruggedness Testing of Power Transistors $y eng 245 10
$a Návrh prostriedkov pre automatizované testovanie energetickej odolnosti výkonových tranzistorov 260 $c Bratislava : $c STU v Bratislave FEI, $c 2020 300 $a 70 s. 650 -4
$a výkonový tranzistor $2 slo 650 -4
$a UIS test $2 slo 650 -4
$a energetická odolnosť $2 slo 650 -4
$a automatizované testovanie $2 slo 650 -4
$a MOSFET $2 slo 650 -4
$a UIS $2 eng 650 -4
$a ruggedness test $2 eng 650 -4
$a automated testing system $2 eng 650 -4
$a MOSFET $2 eng 650 -4
$a power transistor $2 eng 700 1-
$7 stu_us_auth*stu43466 $a Benko, Peter $u 033000 $k Z2 $4 ths $U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky $T FEI Ústav elektroniky a fotoniky $X 5148 $U E030 $Y 549 856 4-
$u https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=AFB64E0160B4F4E92046D59F9648&seo=CRZP-detail-kniha
Počet záznamov: 1