Počet záznamov: 1
Skúmanie elektricky aktívnych porúch v MOS štruktúrach na báze čierneho kremíka
SYS stuzp67741 LBL 00000ntm-a22^^^^^3a-4500 003 SK-STU 005 20190624133837.8 007 ta 008 150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d 040 $a STU $b slo 041 0-
$a slo 044 $a xo 100 1-
$7 stu_us_auth*0024656 $a Svitač, Erik $u 033000 $k Z4 $4 aut $U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky $T FEI Ústav elektroniky a fotoniky $X 74918 $U E030 $Y 549 242 01
$a Investigation of the Electrically Active Defects in the MOS Structure Based on Black Silicon $y eng 245 10
$a Skúmanie elektricky aktívnych porúch v MOS štruktúrach na báze čierneho kremíka 260 $c 2019 300 $a 61 s., $b CD-ROM 650 -4
$a DLTFS $2 slo 650 -4
$a elektrochemické leptanie $2 slo 650 -4
$a DLTS $2 slo 650 -4
$a čierny kremík $2 slo 650 -4
$a chemické leptanie $2 slo 650 -4
$a DLTS $2 eng 650 -4
$a DLTFS $2 eng 650 -4
$a black silicon $2 eng 650 -4
$a chemical etching $2 eng 650 -4
$a electrochemical etching $2 eng 700 1-
$7 stu_us_auth*stu108820 $a Kósa, Arpád $u 033000 $k Z8 $4 ths $U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky $T FEI Ústav elektroniky a fotoniky $X 50249 $U E030 $Y 549 856 4-
$u http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=144607
Počet záznamov: 1