Počet záznamov: 1
Skúmanie elektricky aktívnych porúch v MOS štruktúrach na báze čierneho kremíka
Údaje o názve Skúmanie elektricky aktívnych porúch v MOS štruktúrach na báze čierneho kremíka Záhlavie-meno Svitač, Erik Z4 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Ďal.zodpovednosť Kósa, Arpád Z8 (Školiteľ (konzultant)) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Prekl.náz Investigation of the Electrically Active Defects in the MOS Structure Based on Black Silicon Vyd.údaje 2019 Fakulta FEI Dátum obhajoby 11.06.2019 Študijný odbor 5.2.13. elektronika Študijný program I-EN Fyz.popis 61 s., CD-ROM Predmet.heslá DLTFS elektrochemické leptanie DLTS čierny kremík chemické leptanie DLTS DLTFS black silicon chemical etching electrochemical etching Krajina Slovensko, Slovenská republika Jazyk dok. slovenčina URL http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=144607 Druh dok. DDP - diplomová práca 
kniha
Čiar.kód Lokačná signatúra Signatúra Lokácia Dislokácia Info 284EP12171 E*DIPL- 12171 Fakulta elektrotechniky a informatiky Ústav elektroniky a fotoniky len prezenčne
Počet záznamov: 1