Počet záznamov: 1
Vertical current transport processes in MOS-HEMT heterostructures
SYS 0082355 LBL 00000naa--22^^^^^-a-4500 003 SK-STU 005 20220307173735.6 007 ta 008 200708s^^^^-----------e------000-0-----d 024 7-
$2 SCOPUS $a 2-s2.0-85086588201 024 7-
$2 CC $a 000564393000010 024 7-
$2 DOI $a 10.1016/j.apsusc.2020.146605 035 $a biblio/205409 $2 CREPC2 040 $a STU $b slo 041 0-
$a eng 100 1-
$7 stu_us_auth*stu6992 $a Racko, Juraj, $d 1953- $4 aut $9 15 $X 4226 245 10
$a Vertical current transport processes in MOS-HEMT heterostructures / $c aut. Juraj Racko, Tibor Lalinský, Miroslav Mikolášek, Peter Benko, Sebastian Thiele, Frank Schwierz, Juraj Breza 650 04
$7 stu_us_auth*stus18930 $a GaN 650 04
$7 stu_us_auth*0017171 $a AlGaN 650 04
$7 stu_us_auth*0047855 $a Heterostructures 650 04
$7 stu_us_auth*0047856 $a Vertical current 700 1-
$7 stu_us_auth*stu83001 $a Lalinský, Tibor $4 aut $9 15 700 1-
$7 stu_us_auth*stu59072 $a Mikolášek, Miroslav, $d 1983- $u 033000 $r Z2 $4 aut $9 15 $U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky $T FEI Ústav elektroniky a fotoniky $X 27049 $U E030 $Y 549 700 1-
$7 stu_us_auth*stu43466 $a Benko, Peter, $d 1981- $u 033000 $r Z2 $4 aut $9 15 $U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky $T FEI Ústav elektroniky a fotoniky $X 5148 $U E030 $Y 549 700 1-
$7 stu_us_auth*0027653 $a Thiele, Sebastian $4 aut $9 15 700 1-
$7 stu_us_auth*stu58855 $a Schwierz, Frank $4 aut $9 10 700 1-
$7 stu_us_auth*stu7682 $a Breza, Juraj, $d 1951- $u 033000 $r Z1 $4 aut $9 15 $U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky $T FEI Ústav elektroniky a fotoniky $X 1987 $U E030 $Y 549 773 0-
$w stu_us_cat*0082354 $t Applied Surface Science $x 0169-4332 $7 nnas $g Vol. 527, (2020), Art. no. 146605 [8] s. 856 4-
$u https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0169433220313623
Počet záznamov: 1