Počet záznamov: 1  

2000 IEEE International reliability physics symposium procedings

  1. 538.9. 621.315.592. 621.382. 519.718. 061.3(08) spoľahlivosť. fyzika tuhých látok. fyzika polovodičov. polovodiče. polovodičové súčiastky. dielektriká2000 2000 IEEE International reliability physics symposium procedings : 38th annual. San Jose, California, USA.10.- 13. April 2000. -- Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2000. -- 455 s. -- ISBN : 0-7803-5860-0.

Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.