Počet záznamov: 1  

Štúdium laserom ryhovaných GaAs substrátov metódami SIMS a SEM

  1. KOCANDA, Jozef et al. Štúdium laserom ryhovaných GaAs substrátov metódami SIMS a SEM. In Jemná mechanika a optika. Roč. 37, (1992), č. 9-10, s. 450-454. ISSN 0447-6441 (1992). E*xx/11/1992
Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.