Košík

  Odznačiť vybrané:   0
  1. Štúdium laserom ryhovaných GaAs substrátov metódami SIMS a SEM / Jozef Kocanda, Vladimír Fesič, Magdaléna Matečková, Jaroslav Parízek, Juraj Breza
    Kocanda Jozef  Fesič Vladimír Matečková Magdaléna ; E030 Parízek Jaroslav Breza Juraj ; E030
    Jemná mechanika a optika . Roč. 37, (1992), č. 9-10, s. 450-454
    článok z periodika
    ADE - 12/Vedecké práce v zahraničných nekarentovaných časopisoch ; 13/Vedecké práce v ostatných zahraničných časopisoch
    článok

    článok