The use of scanning electron microscopy and secondary ion mass spectroscopy to check progressive technologie / aut. Magdaléna Matečková, Jozef Kocanda, Juraj Breza, Marián Veselý
Matečková Magdaléna ; E030  Kocanda Jozef Breza Juraj ; E030 Veselý Marián ; E030
CONMET ´93 : Sympozium o zařízeních, metodach studia struktury, vlastností materiálu a transferu progresivních technologií. Brno, Česká rep., 1993 . S. 15-19
článok zo zborníka
AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka