Univerzálny BIST pre testovanie vnorených pamätí v systémoch na čipe / aut. Juraj Šubín ; škol. Elena Gramatová
Šubín Juraj ; 070100  Gramatová Elena ; I100 (škol.)
Počítačové architektury a diagnostika PAD 2015 : . S. 75-80
článok zo zborníka
AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka