Analysis of the current transients by monitoring lateral current evolution in AlGaN/GaN structure / aut. Martin Florovič, Robert Szobolovszký, Jaroslav Kováč, Jaroslava Škriniarová, Peter Kordoš
Florovič Martin ; 033000  Szobolovszký Robert ; 033000 Kováč Jaroslav ; 033000 Škriniarová Jaroslava ; 033000 Kordoš Peter ; 033000
ADEPT 2016 : . S. 253-256
GaN AlGaN ohmic contacts current transients trapping/detrapping
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka