Košík

  Odznačiť vybrané:   0
  1. Delay faults testing chapter 17 / aut. Marcel Baláž, Roland Dobai, Elena Gramatová
    Baláž Marcel  Dobai Roland Gramatová Elena ; 070100
    Design and test technology for dependable systems-on-chip / . S. 378-394
    kapitola(článok) z dokumentu
    ABC - Kapitoly vo vedeckých monografiách vydané v zahraničných vydavateľstvách
    V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    článok

    článok


  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.