Defect analysis of Ni-Au/AlN/p-Si MIS capacitors / aut. Ľubica Stuchlíková, Jakub Drobný, Peter Benko, Arpád Kósa, Miroslav Mikolášek, Aleš Chvála, Juraj Marek
Stuchlíková Ľubica ; 033000  Drobný Jakub ; 033000 Benko Peter ; 033000 Kósa Arpád ; 033000 Mikolášek Miroslav ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Marek Juraj ; 033000
ADEPT 2019 : . S. 223-226
defect analysis DLTFS C-V Ni-Au/AlN/p-Si MIS capacitors
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka