DLTS study of electrically active defecta in power SiC MOSFET / aut. Juraj Marek, Jakub Drobný, Arpád Kósa, Peter Benko, Ľubica Stuchlíková
Marek Juraj ; 033000  Drobný Jakub ; 033000 Kósa Arpád ; 033000 Benko Peter ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000
SURFINT - SREN VI : . S. 96-97
článok zo zborníka
AFG - Abstrakty príspevkov zo zahraničných konferencií
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka