Porosity Measurement by X – Ray Computed Tomography: Different Porosity Analysis Application / aut. Michaela Kritikos
Kritikos Michaela ; 063200 
Digital Conversion on the Way to Industry 4.0. : . S. 175-185
defectoscopy X-ray Computed tomography voxel size
https://link.springer.com/chapter/10.1007/978-3-030-62784-3_15
článok zo zborníka
AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka