Impact of repetitive UIS and SC stress on degradation of power SIC trenchMOSFETS / aut. Juraj Marek, Jozef Kozárik, Aleš Chvála, Michal Minárik, P Špánik, Martin Jagelka, Daniel Donoval, Martin Donoval
Marek Juraj ; 033000  Kozárik Jozef ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Špánik Patrik Ján ; 030000 Jagelka Martin ; 033000 Donoval Daniel ; 033000 Donoval Martin ; 030690
ASDAM 2020 : . S. 92-95
https://ieeexplore.ieee.org/document/9393845
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka