Impact of different solutions on electrical parameters of CuO transistors / aut. Tomáš Vincze, Michal Mičjan, Jaroslav jr Kováč, Martin Weis
Vincze Tomáš ; 033000  Mičjan Michal ; 033000 Kováč Jaroslav jr. ; 033000 Weis Martin ; 033000
ELITECH´21 : . [4] s.
copper oxide FET sol-gel process
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka